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HIVE INF
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RMATI
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ARCHIVE INFORMATION
MRF19045LR3 MRF19045LSR3
9
RF Device Data
Freescale Semiconductor
PRODUCT DOCUMENTATION
Refer to the following documents to aid your design process.
Application Notes
?
AN1955: Thermal Measurement Methodology of RF Power Amplifiers
Engineering Bulletins
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EB212: Using Data Sheet Impedances for RF LDMOS Devices
REVISION HISTORY
The following table summarizes revisions to this document.
Revision
Date
Description
9
Oct. 2008
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Modified data sheet to reflect RF Test Reduction described in Product and Process Change Notification
number, PCN12779, p. 1, 2
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Data sheet archived. Part no longer manufactured.
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Added Product Documentation and Revision History, p. 9
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